PDL 又名：偏振相關(guān)損耗

　　定義為

　　其中Pmax和Pmin分別為當(dāng)被測器件（DUT）輸入光的偏振態(tài)在所有可能的偏振態(tài)間掃描時，通過DUT的最大和最小輸出功率。

　　PDL對于光器件的表征至關(guān)重要。實際上，每個器件都表現(xiàn)為一種偏振相關(guān)傳輸。由于傳輸信號的偏振不僅局限于光纖網(wǎng)絡(luò)之內(nèi)，因此器件的插入損耗隨偏振狀態(tài)而異。這種效應(yīng)會沿傳輸鏈路不可控制地增長，對傳輸質(zhì)量帶來嚴(yán)重影響，因為一條光纖上的偏振是隨意變化的。個別器件的PDL會在系統(tǒng)內(nèi)造成大的功率波動，從而提高了系統(tǒng)的比特錯誤率，甚至?xí)?dǎo)致網(wǎng)絡(luò)故障。結(jié)合偏振模色散（PMD），PDL可能成為脈沖失真和擴散的主要來源。

　　在WDM網(wǎng)絡(luò)的波長選擇型器件中，PDL對應(yīng)于器件的光譜傳輸特征曲線而變化。此外，有些濾波器屬性（如波動或通帶帶寬）也是偏振相關(guān)的。因此，波長PDL的測定就變得必不可少了。

　　PDL測量原則可分為兩大類：確定性方法和不確定性方法。確定性方法從DUT的Mueller或Jones測試矩陣中推導(dǎo)得出其PDL，而這些測試結(jié)果又是通過測量DUT在一系列定義輸入偏振狀態(tài)下的傳輸屬性而得到的，例如Mueller方法。非確定性方法測量DUT在大量輸入偏振狀態(tài)下的最小和最大傳輸值。