研究細(xì)粒物料(<37~40μ)粒度組成所用的儀器。 如圖像分析儀、光衍射儀、激光粒度分析儀及小角度光散射儀等。
當(dāng)被測(cè)顆粒的某種物理特性或物理行為與某一直徑的同質(zhì)球體(或其組合)最相近時(shí),就是把該球體的直徑(或其組合)作為被測(cè)顆粒的等效粒徑(或粒度分布)。
所謂粒度分布,就是粉體樣品中各種大小的顆粒占顆??倲?shù)的比例。
當(dāng)樣品中所有顆粒的真密度相同時(shí),顆粒的重量分布和體積分布一致。在沒有特別說明時(shí),儀器給出的粒度分布一般指重量或體積分布。
有的儀器用戶希望用最大顆粒描述樣品粒度分布的上限,實(shí)際上這是不科學(xué)的。從統(tǒng)計(jì)理論上講,任何一個(gè)樣品的粒度分布范圍都可能小到無限小,大到無限大,因此我們一般不能用最小顆粒和最大顆粒來代表樣品的下、上限,而是用一對(duì)邊界粒徑來表示下、上限。
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